ENTECH反射儀-RM 2000 
SENTECH RM 2000反射儀能夠在UV-VIS-NIR光譜范圍對單層膜、多層膜和基底材料進行高精度反射光譜測量。可對吸收或透明基底上的透明或弱吸收薄膜分析薄膜厚度和折射率.

特性： 
?高精度測量反射光譜, 非接觸、正入射測量 
?寬光譜范圍， 200nm-930nm  （UV-VIS-NIR） 
?可測量反射率R, 薄膜厚度， 折射率 
?FTP expert分析軟件，用于測量薄膜光學常數。 
?測量半導體膜的材料組分（例如： AlGaN on GaN) 
?分析外延生長多層膜

選項：
?深紫外擴展 (200 nm) 
?近紅外擴展 (1700 nm) 
?x-y 地貌圖掃描樣品臺和掃描軟件
?攝像頭選項，用于觀測樣品表面
?電腦  
技術指標：